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工艺突破!晟光硅研完成14 英寸单晶碳化硅晶圆水导激光批量加工验证

来源:晟光硅研2026-08-06 我要评论(0 )   

近日,晟光硅研依托自主工艺体系,采用水导激光加工技术,批量完成14英寸单晶碳化硅晶圆加工验证,攻克超大尺寸SiC硬脆晶体低损伤成型难题,为大尺寸第三代半导体衬底量...

近日,晟光硅研依托自主工艺体系,采用水导激光加工技术,批量完成14英寸单晶碳化硅晶圆加工验证,攻克超大尺寸SiC硬脆晶体低损伤成型难题,为大尺寸第三代半导体衬底量产加工开辟全新技术路线。


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碳化硅(SiC)作为第三代半导体核心材料,凭借宽禁带、高耐压、高热导率优势,广泛应用于新能源汽车、储能变流器、高压电网、航空航天功率器件等领域。更大尺寸单晶碳化硅衬底能够显著提升单炉芯片产出数量、摊薄单片制造成本,14 英寸碳化硅是全球半导体产业重点攻关方向。单晶碳化硅莫氏硬度高达 9.5、脆性极强、对热应力高度敏感;14 英寸超大尺寸晶圆轮廓跨度大、刚性弱,加工极易出现崩边、隐裂、翘曲变形,长期制约产业化落地。


当前行业主流加工方案主要分为传统机械加工与干式激光加工两类,但均存在明显短板: 传统金刚石线锯 / 砂轮机械加工依靠物理磨削去除材料,加工过程持续引入机械应力,边缘易产生崩缺、亚表面微裂纹;同时切缝宽、材料损耗大,昂贵的单晶碳化硅原料浪费严重。


面对 14 英寸大直径薄壁晶圆,持续机械作用力极易引发晶体碎裂,良品率难以保障,且耗材持续消耗,长期生产成本居高不下。 传统干式激光加工依靠激光热烧蚀实现材料去除,加工区域热量快速累积,形成较宽热影响区,诱发碳化硅晶体热裂纹、表面重铸层、氧化缺陷。同时光束焦点以外能量发散,深切割侧壁锥度明显,熔渣附着难以清理,后续抛光工序负担重,无法满足高端半导体级晶圆轮廓精度与晶体完整性要求。


针对 14 英寸单晶碳化硅晶圆加工场景,该技术展现出突出优势: 


✅ 极低热损伤:完整性水流持续带走加工热量,大幅抑制热应力集聚,热影响区控制在微米级别,有效规避传统干式激光典型的热裂纹、晶格损伤问题,最大程度保留单晶碳化硅原生材料性能。


✅大幅降低碎裂风险:非接触式加工,不存在砂轮、切割线对晶环的挤压、摩擦作用力,适配14英寸大尺寸薄壁加工,显著减少崩边、缺口,有效提升一次加工良率。


✅ 侧壁垂直度更高:激光被稳定约束在水束内部,加工深度不受焦点限制,切缝窄、侧壁锥度极小,晶圆轮廓尺寸一致性好,减少后续研磨去除量,节约单晶原料。


✅ 加工表面质量更佳:高速水射流即时冲走熔融碎屑,避免残渣二次划伤晶体表面,加工断面光洁,降低后道抛光工时与成本。


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经过多组工艺验证,采用水导激光成型的 14 英寸单晶碳化硅晶圆,轮廓尺寸精度、边缘完整性、亚表面损伤指标均达到预期标准,充分验证该工艺在超大尺寸碳化硅构件加工上的可行性。


大尺寸碳化硅衬底升级是第三代半导体产业降本增效的核心路径。本次 14 英寸单晶碳化硅晶圆水导激光加工工艺突破,打通了大尺寸 SiC 晶体精密成型新工艺通道。下一步,团队将持续优化成套工艺参数,推进工艺标准化、自动化迭代,推动水导激光技术从工艺验证走向批量应用,助力国内大尺寸碳化硅衬底产业链自主可控,赋能宽禁带半导体产业高质量发展。


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