OPTIPRO是一个功能强大的用于光学参数测定的光谱测量系统，可测量Mueller矩阵。它是包括光源和笔记本电脑的简易而紧凑的系统，便携易用。而且可与LCD MASTER配合工作，使测量数据转移到LCD模拟和仿真软件“LCD MASTER”中来研究整个光学系统的性能。此外，它的分析速度非常快，分析仪的测量时间小于30毫秒；操作的灵活性强，系统配置可以简单地改变或增加必要的零件，从而以最小的投入而使其功能得以很好地扩展。

主要特色：

•高速——分析仪的测量时间小于30毫秒

•灵活性——独立的光源，偏光片，样品台和分析仪，系统配置可以简单地改变或增加必要的零件，该功能可以以最小的投入而被扩展。

•与LCD MASTER 集成——测量数据可以转移到我们的LCD模拟和仿真软件“LCD MASTER”来研究整个光学系统的性能，包括正在测试的样品。

基本规格：

测量参数：

Retardation（Δnd）
•光轴方位
•偏振转换特征(Stokes参数)
•LC 单元的预倾斜和扭转角
以及：
•XY工作台的二维分布
•θ－Φ工作台的角度分布
•温度控制平台

OPTIPRO的应用:
•光学薄膜分析：开发，品质认证（QC）
•LC透镜
•WV或NLC专用薄膜分析
•图像配置层的开发
•LC元参数分析： TN, VA, IPS, OCB, ECB等
•多区域LC单元分析，PSVA或Photo配置：Pre-tilt, cell gap, twist angle, rubbing direction angle.
•生物材料开发：旋光（Optical rotation）

 
测量原理：
•分析仪旋转方法

OPTIPRO种类：