雷射于微细探针清洁技术之应用(4)

时间:2011-10-27 17:39发布人:王仪龙 陈辉达 点击:
OM 观察结果 图 7 微细探针 SEM 观察和 EDS 成分分析 雷射清洁 雷射清洁微细探针实验,针对不同波段的雷射,调整雷射功率、脉冲时间等雷射相关参数进行

关键字:雷射清洁,印刷电路板,晶圆

  • OM观察结果

    7 微细探针SEM 观察和EDS 成分分析

    雷射清洁

    雷射清洁微细探针实验,针对不同波段的雷射,调整雷射功率、脉冲时间等雷射相关参数进行实验。微细探针经由雷射清洁前与雷射清洁后之OM观察比较如图8、图9所示。由图8、图9可观察进行雷射清洁前,微细探针表面附着许多污染物,无法直接观察微细探针表面层,经由雷射清洁后,微细探针表面污染物明显地被清除,可清楚观察微细探针原本之表面层。如图10所示为微细探针经由雷射清洁前与雷射清洁后之剖视图观察比较,由图10可观察微细探针中心凹陷区域附着污染物,经由雷射清洁污染物已被清除。

    8微细探针经由雷射清洁前与雷射清洁后之OM观察比较图

    9微细探针经由雷射清洁前与雷射清洁后之OM观察比较

    雷射清洁前

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